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CheckSum
12KN離線測試系統
完整的ICT平臺，能夠測量複雜電路板 : 可達5,200測試點
雙層探測技術可提供ICT測試和獨立功能測試 : 可測板尺寸61 cm x 33.5cm
可選配: 功能測試, 數字I/O, 邊界掃描, Checksum專有並行晶片燒錄
ILS 3000在線測試系統
完整的在線式測試系統: 可達3,000測試點
可測板尺寸: 40cm x 30cm
可選配: TestJet技術, 功能測試, 數字I/O, 邊界掃描, Checksum專有並行晶片燒錄
PDU桌上型測試系統
高性價比、高靈活性測試系統: 可達2,000測試點
可測板尺寸: 50cm x 40cm
可選配: TestJet技術, 功能測試, 數字I/O, 邊界掃描, Checksum專有並行晶片燒錄
CheckSum
12KN離線測試系統
完整的ICT平臺，能夠測量複雜電路板 : 可達5,200測試點 雙層探測技術可提供ICT測試和獨立功能測試 : 可測板尺寸61 cm x 33.5cm 可選配: 功能測試, 數字I/O, 邊界掃描, Checksum專有並行晶片燒錄
ILS 3000在線測試系統
完整的在線式測試系統: 可達3,000測試點 可測板尺寸: 40cm x 30cm 可選配: TestJet技術, 功能測試, 數字I/O, 邊界掃描, Checksum專有並行晶片燒錄
PDU桌上型測試系統
高性價比、高靈活性測試系統: 可達2,000測試點 可測板尺寸: 50cm x 40cm 可選配: TestJet技術, 功能測試, 數字I/O, 邊界掃描, Checksum專有並行晶片燒錄

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