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测试系统
12KN离线测试系统
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完整的ICT平台,能够测量复杂电路板 :
可达5,200测试点
双层探测技术可提供ICT测试和独立功能测试 :
可测板尺寸61 cm x 33.5cm
可選配:
功能测试, 数字I/O, 边界扫描, Checksum专有并行芯片刻录
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CheckSum
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